直流可編程電子負(fù)載原理是控制內(nèi)部功率MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量（量占空比大小）,靠功率管的耗散功率消耗電能的設(shè)備，它能夠準(zhǔn)確檢測出負(fù)載電壓，精確調(diào)整負(fù)載電流，同時可以實(shí)現(xiàn)模擬負(fù)載短路。由于電子負(fù)載的特殊性能（提供強(qiáng)大的測試環(huán)境，以滿足不同的外界需求），故在電子儀器儀表中占有很大的一片市場，主要適用于各種電源、電池、適配器及需要電子負(fù)載測試場合。
直流可編程電子負(fù)載采用可抽換模組式設(shè)計(jì)，用戶可根據(jù)需要自由選配模組。而且每個負(fù)載模組和主控模組單元之中都具有高性能微處理芯片。它們之間采用平行架構(gòu)，因此具有高測試速度。負(fù)載模組之間由系統(tǒng)同步控制，也可以同步測試具有多路輸出的電源。。
直流可編程電子負(fù)載常見故障解決方法：
1、恒流動態(tài)特性測試不正常：
檢查儀器與被測設(shè)備的連接線是否接反，導(dǎo)致儀器出現(xiàn)反接報(bào)警。
查看負(fù)載電流的量程范圍設(shè)置是否合適。
實(shí)測恒流的斜率如果無法達(dá)到規(guī)格書標(biāo)準(zhǔn)，請將被測設(shè)備與儀器之間的連接導(dǎo)線盡量縮短，因?yàn)檫^長的導(dǎo)線會導(dǎo)致斜率變慢。
2、恒壓輸入不正常：
檢查被測設(shè)備的輸出電壓是否小于電子負(fù)載設(shè)置的電壓。
檢查被測設(shè)備是否出現(xiàn)問題。
檢查儀器與被測設(shè)備的連接線是否接反，導(dǎo)致儀器出現(xiàn)反接報(bào)警。
3、恒功率輸入不正常：
檢查儀器與被測設(shè)備的連接線是否接反，導(dǎo)致儀器出現(xiàn)反接報(bào)警。
檢查被測設(shè)備輸出是否正常，比如電源出現(xiàn)振蕩，或者電源的額定功率達(dá)不到電子負(fù)載的設(shè)置功率。
